Pregunta: Cuando se prueban las placas de circuito utilizadas en la fabricación de reproductores de discos compactos, el porcentaje de defectos a largo plazo es del 10%. Sea X = el número de tarjetas defectuosas en una muestra aleatoria de tamaño n = 25, entonces X ~ Bin(25, 0.1). (Redondee sus probabilidades a tres lugares decimales). (a) Determine P ( X ? 2). (b)

Cuando se prueban las placas de circuito utilizadas en la fabricación de reproductores de discos compactos, el porcentaje de defectos a largo plazo es del 10%. Sea X = el número de tarjetas defectuosas en una muestra aleatoria de tamaño n = 25, entonces X ~ Bin(25, 0.1). (Redondee sus probabilidades a tres lugares decimales).

(a) Determine P ( X ? 2).


(b) Determine P ( X ? 5).


(c) Determine P (1 ? X ? 4).


(d) ¿Cuál es la probabilidad de que ninguna de las 25 tablas esté defectuosa?


(e) Calcule el valor esperado y la desviación estándar de X. (Redondee su desviación estándar a dos lugares decimales).